太陽電池の高性能化に関する研究

本研究は多結晶シリコン製太陽電池の急速と摩耗劣化を解明することを目的にしています。
近年、メガソーラーでは高電界によって数ヶ月から数年で出力が大幅に低下するPotential Induced Degradation（ PID）現象が報告され、太陽電池に脆弱な領域があることがわかってきました。一般家庭の太陽電池では短期急速劣化は発生しないものの、10年を超え使用するとPIDと同じ領域が故障する可能性があります。そこで我々は長期信頼性試験を実験室で実現し、太陽電池の劣化メカニズムについて明らかにする研究を行っています。
今回逆バイアス高温（BT）印加を使い太陽電池の長期信頼性試験を約9000時間行い、太陽電池の劣化解析を行いました。

【理工学部電気工学科　竹下達也】

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