太陽電池の高性能化に関する研究

本研究は多結晶シリコン製太陽電池の急速劣化を解明することを目的にしています。
太陽電池の劣化率は0.5%/年程度であることが近年わかってきました。一方、メガソーラーでは高電圧によって数ヶ月から数年で出力が大幅に低下するPotential Induced Degradation (PID)現象が報告され、太陽電池に脆弱な領域があることがわかってきました。一般家庭の太陽電池では短期急速劣化は発生しないものの、10年を超え使用するとPIDと同じ領域が故障する可能性があります。そこで我々は長期信頼性試験を実験室で実現し、太陽電池の劣化メカニズムについて明らかにする研究を行っています。
今回40mm×40mmの大面積で深さ100μm程度の領域を分析する多波長光励起電流測定系を実現し、太陽電池の回復・劣化解析を行いました。

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