機器一覧【観察】

装置仕様は、加速電圧0.5〜30kV、倍率5〜60万倍、分解能1.0 nmであり、ナノレベルまでの観察が可能である。また、試料の元素組成の測定、低真空モードでの含水試料観察も可能である。

付属する前処理装置
IB-19520CCP:試料の断面を加工する断面試料作製装置
EC-32010CC :元素分析用の試料にカーボン蒸着を行う試料作製装置
JEC-3000FC :生物などの非導電性試料へ各種金属コーティングを行う装置
HLA-2 :薄膜試料や超薄切片試料作製の面出し装置

（付属レンズ）
VC-Ol350T （350～3500倍）
VC-HRM20FZ（20～160倍）

凹凸のある試料でも、高さを変えて画像のデータをとり、それを合成することで、鮮明な画像が得られる。また、3次元画像で表すことができる。データはUSBポートからフラッシュメモリーなどへ保存できる。

絶縁物試料も金属コーティングせずに、そのまま観察できる。また、付属したエネルギー分散型X線分析装置（Bruker Quantax70）により、試料の軽元素分析ができる。試料は、最大寸法70mm,厚さ50mmまで観察可能。倍率は、15倍〜30,000倍。画像の記録媒体は、CDのみ。

赤外線カメラは、可視光の下では見えない、隠れた文字の判読、例えば、古建築物や仏像等に書かれた文字，あるいは、絵画の下絵等の判別に使用される。紫外線カメラは、紫外線に反応する絵の具が使われている絵画の判別などに使用される。

装置付属品は、
1）画像取り込み装置　M6958-03　Dell
2）赤外用レンズとフィルター(800nm以上)、紫外用レンズとフィルター(350nm以下)
3）赤外・紫外用LED光源用電源 MLEX-A080W1LR-100V
4）赤外用照明MBRL-CIR7530(λ850nm)、紫外用照明MBRL-CUV7530(λ360nm)